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특허정보 상세정보 게시판
제목 특정 토양 중금속 오염 현장 측정을 위한 전처리 장치, 측정 시스템 및 방법
출원일자 2017-11-22
특허권자 이름 한국기술교육대학교 산학협력단
요약 본 발명은 특정 토양 중금속 오염 현장 측정을 위한 전처리 장치, 측정 시스템 및 방법을 제공하며, 본 발명에 따른 특정 토양 중금속 오염 현장 측정을 위한 전처리 장치는, 산 처리부, 중화 처리부, 카트리지부, 및 중금속 검출용 혼합물의 색상을 분석함으로써 특정 중금속 이온의 농도를 측정하는 분석부를 포함하는 것을 특징으로 하며, 이에 의하면, 현장에서 즉각적으로 산 처리 및 고상 추출을 통해 시료로부터 특정 중금속 이온을 추출할 수 있다.
첨부파일 http://plus.kipris.or.kr/kiprisplusws/fileToss.jsp?arg=12df679b84029f739813e9e1875bb85753c9788b0675422b05824e0539256d7bd87a0b687abe85c36d089716e55354d41aeb8731efad7189b05df13adad80441bd0cc0a00ae5d494
출처 http://kportal.kipris.or.kr
조회수 173
등록번호 1020340930000
특허 등록일자 2019-10-14

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